تشتت النيوترونات بزاوية صغيرة مع صدى الدوران

يُعدّ تشتت النيوترونات بزاوية صغيرة باستخدام صدى الدوران (SESANS) نسخةً ذات زاوية صغيرة من تشتت النيوترونات باستخدام صدى الدوران . تُعرض المعلومات على شكل خريطة في الفضاء الحقيقي (مشابهة لـ g(r)) بدلاً من خريطة في الفضاء المقلوب (q(r)). وهذا يُسهّل تفسير بعض الأنظمة. ^{[ 1 ]}

تُعدّ تقنية SESANS مفيدة لدراسة العمليات التي تحدث في الهياكل الكبيرة على مدى فترات زمنية طويلة نسبيًا، نظرًا لبطء عملية جمع البيانات في كثير من الأحيان. ويمكنها تحقيق دقة تتراوح من حوالي 20 إلى 2000 نانومتر. ومن الأمثلة البارزة على ذلك:  تجمّع الغرويات ^{[ 2 ]} ، ومذيلات البوليمرات المتجانسة ^{[ 3 ]} ، وجزيئات السيليكا من نوع ستوبر ^{[ 4 ] .}

تُقدّم هذه التقنية بعض المزايا مقارنةً بتقنية تشتت النيوترونات بزاوية صغيرة ( SANS) ^{[ 5 ]} ، إلا أن عدد أجهزة SESANS المتاحة أقل من عدد أجهزة SANS . وتتوفر مرافق SESANS في جامعة دلفت للتكنولوجيا (هولندا) ^{[ 6 ]} ومختبر روثرفورد أبليتون (المملكة المتحدة) ^{[ 7 ] .}