الدقة الطيفية

الدقة الطيفية للمطياف ، أو بشكل أعم، للطيف الترددي ، هي مقياس لقدرته على تمييز خصائص الطيف الكهرومغناطيسي . ويُرمز لها عادةً بـ${\displaystyle \Delta \lambda }$وهي مرتبطة ارتباطًا وثيقًا بقدرة الفصل الطيفي، والتي تُعرَّف على النحو التالي: $${\displaystyle R={\frac {\lambda }{\Delta \lambda }},}$$ أين${\displaystyle \Delta \lambda }$هو أصغر فرق في الأطوال الموجية يمكن تمييزه عند طول موجي${\displaystyle \lambda }$على سبيل المثال، يستطيع مطياف التصوير التابع لتلسكوب الفضاء (STIS) تمييز السمات التي تفصل بينها مسافة 0.17 نانومتر عند طول موجي يبلغ 1000  نانومتر، مما يمنحه دقة تبلغ 0.17  نانومتر وقدرة تحليلية تصل إلى حوالي 5900. ومن الأمثلة على المطيافات عالية الدقة مطياف الأشعة تحت الحمراء عالي الدقة المبرد (CRIRES+) المثبت في التلسكوب الكبير جدًا التابع للمرصد الأوروبي الجنوبي ، والذي يتمتع بقدرة تحليلية طيفية تصل إلى 100000. ^{[ 1 ]}

يمكن أيضًا التعبير عن الدقة الطيفية بدلالة الكميات الفيزيائية، مثل السرعة؛ وعندها تصف الفرق بين السرعات.${\displaystyle \Delta v}$والتي يمكن تمييزها من خلال تأثير دوبلر . عندئذٍ، تكون الدقة${\displaystyle \Delta v}$والقدرة على التمييز هي $${\displaystyle R={\frac {c}{\Delta v}},}$$ أين${\displaystyle c}$هي سرعة الضوء . وبالتالي، فإن مثال STIS المذكور أعلاه يتمتع بدقة طيفية تبلغ 51.

يُعرّف الاتحاد الدولي للكيمياء البحتة والتطبيقية (IUPAC) الدقة في التحليل الطيفي البصري بأنها أقل فرق في العدد الموجي أو الطول الموجي أو التردد بين خطين في الطيف يمكن تمييزهما. ^{[ 2 ]} تُعطى القدرة التحليلية، R ، بقسمة العدد الموجي أو الطول الموجي أو التردد للانتقال على الدقة. ^{[ 3 ]}

• الدقة الزاوية
• الدقة (قياس الطيف الكتلي)

• كيم كويجانو، ج.، وآخرون (2003)، دليل أجهزة STIS ، الإصدار 7.0، (بالتيمور: STScI)
• Frank L. Pedrotti, SJ (2007)، مقدمة في البصريات ، الإصدار الثالث، (سان فرانسيسكو)